Die Norm UNE-EN 60749-22:2004 26.3.2004 Ansicht

UNE-EN 60749-22:2004

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 22: Bond strength

Automatische name übersetzung:

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 22: Haftfestigkeit



NORM herausgegeben am 26.3.2004


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
Preis67.60 ohne MWS
67.60

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-22:2004
Ausgabedatum normen: 26.3.2004
SKU: NS-560998
Zahl der Seiten: 48
Gewicht ca.: 144 g (0.32 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE

Kategorie - ähnliche Normen:

Semiconductor devices in general



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