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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 25: Temperature cycling
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 25: Temperaturwechsel
NORM herausgegeben am 11.6.2004
Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-25:2004
Ausgabedatum normen: 11.6.2004
SKU: NS-561002
Zahl der Seiten: 33
Gewicht ca.: 99 g (0.22 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE
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Letzte Aktualisierung: 2026-09-04 (Zahl der Positionen: 2 300 131)
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