UNGÜLTIG UNE-EN 60749-28:2017 6.4.2025 Ansicht

UNE-EN 60749-28:2017

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in August of 2017.)

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NORM herausgegeben am 6.4.2025


Sprache
Realisierung
Zugänglichkeitin 7 Werktagen
Preis78.40 ohne MWS
78.40

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-28:2017
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 6.4.2025
SKU: NS-1218130
Zahl der Seiten: 52
Gewicht ca.: 156 g (0.34 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE



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