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UNGÜLTIG UNE-EN 60749-3:2003 30.5.2003 Ansicht

UNE-EN 60749-3:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination

Automatische name übersetzung:

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: AUSSENSichtPrüfung.



NORM herausgegeben am 30.5.2003


Sprache
Realisierung
Zugänglichkeitin 7 Werktagen
Preis32.90 € ohne MWS
32.90 €

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-3:2003
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 30.5.2003
SKU: NS-561003
Zahl der Seiten: 14
Gewicht ca.: 42 g (0.09 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE

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