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UNE-EN 60749-30:2005
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 30: Präkonditionierung nicht hermetischen Surface Mount Devices VOR Zuverlässigkeitsprüfung
NORM herausgegeben am 2.11.2005
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-30:2005
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 2.11.2005
SKU: NS-561005
Zahl der Seiten: 35
Gewicht ca.: 105 g (0.23 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE
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