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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components (IEC 60749-35:2006) (Endorsed by AENOR in January of 2007.)
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NORM herausgegeben am 1.1.2007
Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-35:2006
Ausgabedatum normen: 1.1.2007
SKU: NS-1118066
Zahl der Seiten: 25
Gewicht ca.: 75 g (0.17 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE
Letzte Aktualisierung: 2026-10-26 (Zahl der Positionen: 2 208 060)
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