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UNE-EN 60749-37:2008
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 37: Board level drop test method using an accelerometer (Endorsed by AENOR in July of 2008.)
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NORM herausgegeben am 17.11.2025
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-37:2008
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 17.11.2025
SKU: NS-1249602
Zahl der Seiten: 23
Gewicht ca.: 69 g (0.15 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE
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