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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in July of 2017.)
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NORM herausgegeben am 1.7.2017
Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-4:2017
Ausgabedatum normen: 1.7.2017
SKU: NS-1118070
Zahl der Seiten: 19
Gewicht ca.: 57 g (0.13 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE
Letzte Aktualisierung: 2026-10-26 (Zahl der Positionen: 2 208 060)
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