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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge (Endorsed by AENOR in November of 2011.)
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NORM herausgegeben am 1.11.2011
Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-40:2011
Ausgabedatum normen: 1.11.2011
SKU: NS-1118071
Zahl der Seiten: 26
Gewicht ca.: 78 g (0.17 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE
Letzte Aktualisierung: 2026-10-26 (Zahl der Positionen: 2 208 060)
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