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UNE-EN 60749-43:2017
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in October of 2017.)
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NORM herausgegeben am 10.10.2024
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-43:2017
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.10.2024
SKU: NS-1203590
Zahl der Seiten: 46
Gewicht ca.: 138 g (0.30 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE
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