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Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 17: Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films (Endorsed by AENOR in August of 2015.)
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NORM herausgegeben am 1.8.2015
Bezeichnung normen: UNE-EN 62047-17:2015
Ausgabedatum normen: 1.8.2015
SKU: NS-1120544
Zahl der Seiten: 31
Gewicht ca.: 93 g (0.21 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE
Letzte Aktualisierung: 2026-09-08 (Zahl der Positionen: 2 300 134)
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