Die Norm UNE-EN 62047-17:2015 1.8.2015 Ansicht

UNE-EN 62047-17:2015

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 17: Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films (Endorsed by AENOR in August of 2015.)

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NORM herausgegeben am 1.8.2015


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
Preis73.50 ohne MWS
73.50

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: UNE-EN 62047-17:2015
Ausgabedatum normen: 1.8.2015
SKU: NS-1120544
Zahl der Seiten: 31
Gewicht ca.: 93 g (0.21 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE

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