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Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films (Endorsed by AENOR in September of 2011.)
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NORM herausgegeben am 1.9.2011
Bezeichnung normen: UNE-EN 62047-8:2011
Ausgabedatum normen: 1.9.2011
SKU: NS-1120558
Zahl der Seiten: 21
Gewicht ca.: 63 g (0.14 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE
Letzte Aktualisierung: 2026-09-08 (Zahl der Positionen: 2 300 134)
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