Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22-2: Bond strength - Wire bond shear test methods (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in February of 2026.)
Name übersetzen
NORM herausgegeben am 1.2.2026
Bezeichnung normen: UNE-EN IEC 60749-22-2:2026
Ausgabedatum normen: 1.2.2026
SKU: NS-1260643
Zahl der Seiten: 43
Gewicht ca.: 129 g (0.28 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE
Letzte Aktualisierung: 2026-03-03 (Zahl der Positionen: 2 264 974)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.