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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in March of 2026.)
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NORM herausgegeben am 1.3.2026
Bezeichnung normen: UNE-EN IEC 60749-23:2026
Ausgabedatum normen: 1.3.2026
SKU: NS-1263582
Zahl der Seiten: 17
Gewicht ca.: 51 g (0.11 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE
Letzte Aktualisierung: 2026-10-26 (Zahl der Positionen: 2 208 060)
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