Standard Test Method for Curl in Carbon Paper (Withdrawn 2016)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.10.2010

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Test Method for Detection of Oxidation Induced Defects in Polished Silicon Wafers (Withdrawn 1998)

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Test Method for Flexural Strength (Modulus of Rupture) of Electronic-Grade Ceramics (Withdrawn 2001)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1996

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Standard Practice for Preparation of Samples of the Constant Composition Region of Epitaxial Gallium Arsenide Phosphide for Hall Effect Measurements (Includes all amendments And changes 8/16/2017).

UNGÜLTIG herausgegeben am 27.5.1977

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Standard Practice for Preparation of Samples of the Constant Composition Region of Epitaxial Gallium Arsenide Phosphide for Hall Effect Measurements (Withdrawn 2008)

UNGÜLTIG herausgegeben am 27.5.1977

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Test Method for Determining Carrier Density in Silicon Epitaxial Layers by Capacitance-Voltage Measurements on Fabricated Junction or Schottky Diodes (Withdrawn 2001)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1994

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Standard Test Methods for Conductivity Type of Extrinsic Semiconducting Materials (Withdrawn 2003)

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.12.2002

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Standard Test Methods for Conductivity Type of Extrinsic Semiconducting Materials

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.12.1997

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Standard Test Method for Access Depth Under Furniture of Vacuum Cleaners

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.8.2004

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Standard Test Method for Access Depth Under Furniture of Vacuum Cleaners

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.2.2009

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