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ASTM F757-01 Historisch

Standard Test Method for Determining Energy Consumption of Copier and Copier-Duplicating Equipment (Withdrawn 2006)

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.12.2001

Ausgewählte Ausführung:

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75.40


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ASTM F757-94e1 Historisch

Standard Test Method for Determining Energy Consumption of Copier and Copier-Duplicating Equipment (Includes all amendments And changes 8/16/2017).

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.12.2001

Ausgewählte Ausführung:

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75.40


AUF LAGER
ASTM F758-14 Historisch

Standard Specification for Smooth-Wall Poly(Vinyl Chloride) (PVC) Plastic Underdrain Systems for Highway, Airport, and Similar Drainage

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.11.2014

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75.40


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ASTM F758-14(2019) Historisch

Standard Specification for Smooth-Wall Poly(Vinyl Chloride) (PVC) Plastic Underdrain Systems for Highway, Airport, and Similar Drainage

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.8.2019

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75.40


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ASTM F758-95(2000) Historisch

Standard Specification for Smooth-Wall Poly(Vinyl Chloride) (PVC) Plastic Underdrain Systems for Highway, Airport, and Similar Drainage

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.9.1995

Ausgewählte Ausführung:

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75.40


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ASTM F758-95(2007)e1 Historisch

Standard Specification for Smooth-Wall Poly(Vinyl Chloride) (PVC) Plastic Underdrain Systems for Highway, Airport, and Similar Drainage (Includes all amendments And changes 12/15/2014).

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.2.2007

Ausgewählte Ausführung:

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75.40


in 1 Werktagen
ASTM F759-88E01 Historisch

Specification for Hot Chocolate Beverage Dispensers (Withdrawn 1995)

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67.50


in 1 Werktagen
ASTM F76-08 Historisch

Standard Test Methods for Measuring Resistivity and Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Single-Crystal Semiconductors

UNGÜLTIG herausgegeben am 15.6.2008

Ausgewählte Ausführung:

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84.20


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ASTM F76-08(2016) Historisch

Standard Test Methods for Measuring Resistivity and Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Single-Crystal Semiconductors

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.5.2016

Ausgewählte Ausführung:

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84.20


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ASTM F76-08(2016)e1 Historisch

Standard Test Methods for Measuring Resistivity and Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Single-Crystal Semiconductors (Withdrawn 2023) (Includes all amendments And changes 11/30/2023).

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.5.2016

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84.20


in 1 Werktagen

Angezeigter Eintrag von 89550 bis 89560 aus gesamt 91752 Einträgen.


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