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ASTM – die Gesellschaft ASTM International ist eine der größten unabhängigen Organisationen für Entwicklung der Normen in der Welt – eine zuverlässige Quelle der technischen Normen für Werkstoffe, Produkte, Systeme und Dienstleistungen. Die Normen der Gesellschaft ASTM International sind durch ihre hohe technische Qualität und Aktualität im Marktrahmen bekannt, und deswegen spielen sie eine wichtige Rolle in der Informationsinfrastruktur, die die Projekte, Produktion und Handel in der globalen Wirtschaft steuert. ASTM gibt Normen für Metalle, Brennbarkeit, chemische Produkte, Schmierstoffe, fossile Brennstoffe, Textilien, Farben, Gummi, Rohrleitungen, Rechtswissenschaften, Elektronik, Energetik, medizinische Geräte und viele andere Themen heraus.
Method of Test for Silting Index of Fluids for Processing Electron and Microelectronic Devices (Withdrawn 1979)
Ausgewählte Ausführung:Standard Test Method for Environmental Resistance of Aerospace Transparencies
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.5.2010
Ausgewählte Ausführung:Standard Test Method for Environmental Resistance of Aerospace Transparencies to Artificially Induced Exposures
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.4.2016
Ausgewählte Ausführung:Standard Test Method for Environmental Resistance of Aerospace Transparencies
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1997
Ausgewählte Ausführung:Standard Test Method for Environmental Resistance of Aerospace Transparencies
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.10.2004
Ausgewählte Ausführung:Standard Test Methods for Bond Integrity of Transparent Laminates
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.4.2016
Ausgewählte Ausführung:Standard Test Methods for Bond Integrity of Transparent Laminates (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1997
Ausgewählte Ausführung:Standard Test Methods for Bond Integrity of Transparent Laminates
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.10.2004
Ausgewählte Ausführung:Standard Test Methods for Bond Integrity of Transparent Laminates
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.5.2010
Ausgewählte Ausführung:Test Method for Stacking Fault Density of Epitaxial Layers of Silicon by Interference-Contrast Microscopy (Withdrawn 1998)
Ausgewählte Ausführung:Letzte Aktualisierung: 2025-11-13 (Zahl der Positionen: 2 243 644)
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