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ASTM – die Gesellschaft ASTM International ist eine der größten unabhängigen Organisationen für Entwicklung der Normen in der Welt – eine zuverlässige Quelle der technischen Normen für Werkstoffe, Produkte, Systeme und Dienstleistungen. Die Normen der Gesellschaft ASTM International sind durch ihre hohe technische Qualität und Aktualität im Marktrahmen bekannt, und deswegen spielen sie eine wichtige Rolle in der Informationsinfrastruktur, die die Projekte, Produktion und Handel in der globalen Wirtschaft steuert. ASTM gibt Normen für Metalle, Brennbarkeit, chemische Produkte, Schmierstoffe, fossile Brennstoffe, Textilien, Farben, Gummi, Rohrleitungen, Rechtswissenschaften, Elektronik, Energetik, medizinische Geräte und viele andere Themen heraus.
Standard Practice for Unaided Visual Inspection of Polished Silicon Wafer Surfaces (Withdrawn 2003)
UNGÜLTIG herausgegeben am 10.12.2002
Ausgewählte Ausführung:Standard Practice for Unaided Visual Inspection of Polished Silicon Wafer Surfaces
UNGÜLTIG herausgegeben am 10.12.1997
Ausgewählte Ausführung:Test Methods for Measuring Beam Divergence of Pulsed Lasers by the Apertured-Detector Technique (Withdrawn 2001)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1992
Ausgewählte Ausführung:Standard Test Method for Measuring Resistivity of Silicon Wafers Using a Spreading Resistance Probe (Withdrawn 2003) (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
UNGÜLTIG herausgegeben am 10.12.2000
Ausgewählte Ausführung:Standard Test Method for Measuring Dose for Use in Linear Accelerator Pulsed Radiation Effects Tests
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.2011
Ausgewählte Ausführung:Standard Test Method for Using Calorimeters for Total Dose Measurements in Pulsed Linear Accelerator or Flash X-ray Machines
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.6.2016
Ausgewählte Ausführung:Standard Test Method for Measuring Dose for Use in Linear Accelerator Pulsed Radiation Effects Tests
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1991
Ausgewählte Ausführung:Standard Test Method for Measuring Dose for Use in Linear Accelerator Pulsed Radiation Effects Tests
UNGÜLTIG herausgegeben am 10.12.1997
Ausgewählte Ausführung:Practice for Adjusting Photoresist Exposure Time (Withdrawn 1996)
Ausgewählte Ausführung:Standard Test Method of Measurement of Common-Emitter D-C Current Gain of Junction Transistors
UNGÜLTIG herausgegeben am 10.12.1999
Ausgewählte Ausführung:Letzte Aktualisierung: 2025-11-13 (Zahl der Positionen: 2 243 644)
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