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ASTM - Amerikanische technische Normen - Seite Nr. 8690

Normen ASTM - Amerikanische technische Normen - Seite Nr. 8690

ASTM – die Gesellschaft ASTM International ist eine der größten unabhängigen Organisationen für Entwicklung der Normen in der Welt – eine zuverlässige Quelle der technischen Normen für Werkstoffe, Produkte, Systeme und Dienstleistungen. Die Normen der Gesellschaft ASTM International sind durch ihre hohe technische Qualität und Aktualität im Marktrahmen bekannt, und deswegen spielen sie eine wichtige Rolle in der Informationsinfrastruktur, die die Projekte, Produktion und Handel in der globalen Wirtschaft steuert. ASTM gibt Normen für Metalle, Brennbarkeit, chemische Produkte, Schmierstoffe, fossile Brennstoffe, Textilien, Farben, Gummi, Rohrleitungen, Rechtswissenschaften, Elektronik, Energetik, medizinische Geräte und viele andere Themen heraus.

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ASTM F528-99(2005) Historisch

Standard Test Method of Measurement of Common-Emitter D-C Current Gain of Junction Transistors (Withdrawn 2011)

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.12.1999

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ASTM F529-80(1987) Historisch

Method for Interpretation of Interferograms of Nominally Plane Wavefronts (Withdrawn 1994)

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ASTM F529-80(1987)e1 Historisch

Method for Interpretation of Interferograms of Nominally Plane Wavefronts (Includes all amendments And changes 8/13/2021).

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1987

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ASTM F53-68(1978) Historisch

Recommended Practice for Measurement of Sublimation From Thermionic Emitters (Withdrawn 1984)

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ASTM F530-81(1987) Historisch

Test Method for Wavefront Distortion of Laser Rods (Withdrawn 1994)

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ASTM F531-81(1987) Historisch

Test Method for Wavefront Distortion and Face Parallelism of Laser Disks (Withdrawn 1994)

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ASTM F532-81(1987) Historisch

Test Methods for Measuring Width of Defects in Optical Surfaces, Using Nomarski Differential Microscopy (Withdrawn 1994)

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ASTM F532-81(1987)e1 Historisch

Test Methods for Measuring Width of Defects in Optical Surfaces, Using Nomarski Differential Microscopy (Includes all amendments And changes 8/13/2021).

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.1.1987

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ASTM F533-02 Historisch

Standard Test Method for Thickness and Thickness Variation of Silicon Wafers

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.1.2002

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ASTM F533-02a Historisch

Standard Test Method for Thickness and Thickness Variation of Silicon Wafers (Withdrawn 2003) (Includes all amendments And changes 8/16/2017).

UNGÜLTIG herausgegeben am 10.12.2002

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