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GB - Chinesische nationale Normen - Seite Nr. 4731

Normen GB - Chinesische nationale Normen - Seite Nr. 4731

Die Normen GB sind chinesische Nationalnormen, die von Chinesischen Standardisierungs-Verwaltungsbehörde (SAC) herausgegeben werden.
Unter dem üblichen Namen GB werden die chinesischen Nationalnormen in dem ganzen China verwendet und sie beinhalten die Produktanforderungen bezüglich der Sicherheit und Qualität der Produkte.
Die Normen GB sind oft nach internationalen Normen ISO, IEC sowie nach anderen internationalen Normen geregelt oder direkt gebildet. Obwohl sie im großen Maß harmonisiert werden, können sich die GB-Normen von internationalen Normen unterscheiden.
Ungefähr 15% aller GB-Normen sind verbindlich und können dank dem Präfix GB, nach dem der Kode der Norm folgt, erkannt werden:

GB - Verbindliche Nationalnormen
GB/T - Freiwillige Nationalnormen
GB/Z - Nationales technisches Lenkungsdokument

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GB/T 4934.1-2008

Instrument for soil test - Shear apparatus - Part 1: Strain-controlled direct shear apparatus

Die Norm herausgegeben am 17.6.2008

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GB/T 4934.2-2008

Instrument for soil test - Shear apparatus - Part 2Field vane shear apparatus

Die Norm herausgegeben am 17.6.2008

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GB/T 4935.1-2008

Instrument for soil test - Oedometer - Part 1: Single level arm oedometer

Die Norm herausgegeben am 21.11.2008

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Ansicht GB/T 4935.2-2009 12.6.2009
GB/T 4935.2-2009

Instrument for soil test - Oedometer - Part 2: Pneumatic oedometer

Die Norm herausgegeben am 12.6.2009

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Ansicht GB/T 4937.1-2006 23.8.2006
GB/T 4937.1-2006

Semiconductor devicesMechanical and climatic test methodsPart 1: General

Die Norm herausgegeben am 23.8.2006

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GB/T 4937.10-2025

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 10: Mechanical shock—Device and subassembly

Die Norm herausgegeben am 31.12.2025

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GB/T 4937.11-2018

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 11:Rapid change of temperature—Two-fluid-bath method

Die Norm herausgegeben am 17.9.2018

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Ansicht GB/T 4937.12-2018 17.9.2018
GB/T 4937.12-2018

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 12: Vibration, variable frequency

Die Norm herausgegeben am 17.9.2018

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GB/T 4937.13-2018

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 13: Salt atmosphere

Die Norm herausgegeben am 17.9.2018

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GB/T 4937.14-2018

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 14: Robustness of terminationslead integrity

Die Norm herausgegeben am 17.9.2018

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