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DIN – ist geschützte Bezeichnung der deutschen nationalen technischen Normen.
Right/Left circular knitting machines; terms.
(Rechts/Links-Rundstrickmaschinen; Begriffe.)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.7.1965
Ausgewählte Ausführung:
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz - Part 1: General and definitions.
(Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit, 150 kHz bis 1 GHz - Teil 1: Allgemeines und Definitionen.)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.12.2001
Ausgewählte Ausführung:
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz - Part 1: General conditions and definitions.
(Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 1: Allgemeine Bedingungen und Begriffe.)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.6.2006
Ausgewählte Ausführung:
VDE 0847-22-1. Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 1: General conditions and definitions.
(VDE 0847-22-1. Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 1: Allgemeine Bedingungen und Begriffe.)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.11.2012
Ausgewählte Ausführung:
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz - Part 1: General conditions and definitions.
(Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 1: Allgemeine Bedingungen und Begriffe.)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.2.2007
Ausgewählte Ausführung:
Integrated Circuits - Measurement of Electromagnetic Immunity, 150 kHz to 1 GHz - Part 2: Measurement of Radiated Immunity - Tem-Cell and Wideband Tem-Cell Method.
(Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 2: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - TEM-Zellen- und Breitband-TEM-Zellenverfahren.)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.8.2006
Ausgewählte Ausführung:
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz - Part 3: Bulk Current Injection (BCI), 10 kHz to 1 GHz.
(Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit, 150 kHz bis 1 GHz - Teil 3: Stromeinspeisungs-Verfahren, 10 kHz bis 1 GHz.)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.9.2003
Ausgewählte Ausführung:
Integrated circuits - Measurement of Electromagnetic Immunity, 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Direct RF power injection method.
(Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit, 150 kHz bis 1 GHz - Teil 4: Verfahren direkter Einspeisung der HF-Leistung.)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.2.2003
Ausgewählte Ausführung:
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 5: Measurement of conducted immunity; Workbench faraday cage method.
(Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 5: Messung der Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Störgrößen; Verfahren mit Faradayschem Arbeitskäfig.)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.6.2002
Ausgewählte Ausführung:
VDE 0847-22-6. Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 6: Local Injection Horn Antenna (LIHA) method.
(VDE 0847-22-6. Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 6: Verfahren mit Lokaler Injektions-Hornantenne (LIHA).)
UNGÜLTIG herausgegeben am 1.3.2011
Ausgewählte Ausführung:Letzte Aktualisierung: 2026-10-20 (Zahl der Positionen: 2 307 718)
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