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Normen VDE - Deutsche Normen - Seite Nr. 237

Der VDE - Verband der Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik wurde bereits im Jahre 1893 gegründet. Er fördert die moderne Fortbildung der Fachkräfte und hohe Akzeptanz der Technik seitens der Bevölkerung. Er unterstützt die Entwicklung von Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnologien und die damit verbundenen Technologien.
Der Schwerpunkt des Verbandes ist die Sicherheit in der Elektrotechnik, Entwicklung von anerkannten Regeln der Technik als nationale und internationale Normen, Prüfverfahren und Zertifizierung von Geräten und Systemen.
Die amerikanische Variante der VDE-Normen wird als UL-Norm (Underwriters Laboratories) bezeichnet.

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Ausgabejahr

Gültige (4688)

Ungültige (18859)

DIN EN IEC 60747-17:2021-10

VDE 0884-17. Semiconductor devices - Part 17: Magnetic and capacitive coupler for basic and reinforced insulation.
(VDE 0884-17. Halbleiterbauelemente - Teil 17: Magnetische und kapazitive Koppler für Basisisolierung und verstärkte Isolierung.)

Die Norm herausgegeben am 1.10.2021

Ausgewählte Ausführung:

Deutsch -

Gedruckt (145.10 EUR)

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145.10 €

in 7 Werktagen

DIN EN IEC 60747-5-5:2021-10

VDE 0884-5. Semiconductor devices - Part 5-5: Optoelectronic devices - Photocouplers.
(VDE 0884-5. Halbleiterbauelemente - Teil 5-5: Optoelektronische Bauelemente - Optokoppler.)

Die Norm herausgegeben am 1.10.2021

Ausgewählte Ausführung:

Deutsch -

Gedruckt (150.30 EUR)

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150.30 €

in 7 Werktagen

DIN EN IEC 60749-17:2019-11

VDE 0884-749-17. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation.
(VDE 0884-749-17. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 17: Neutronenbestrahlung.)

Die Norm herausgegeben am 1.11.2019

Ausgewählte Ausführung:

Deutsch -

Gedruckt (43.90 EUR)

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43.90 €

in 7 Werktagen

E DIN EN IEC 60749-21:2025-04

VDE 0884-749-21. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability.
(VDE 0884-749-21. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 21: Lötbarkeit.)

Die Norm herausgegeben am 1.4.2025

Ausgewählte Ausführung:

Deutsch -

Gedruckt (28.50 EUR)

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in 7 Werktagen

E DIN EN IEC 60749-24:2025-04

VDE 0884-749-24. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST.
(VDE 0884-749-24. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 24: Beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Hochbeschleunigte Wirkung (HAST) ohne elektrische Beanspruchung.)

Die Norm herausgegeben am 1.4.2025

Ausgewählte Ausführung:

Deutsch -

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in 7 Werktagen

DIN EN IEC 60749-26:2018-10

VDE 0884-749-26. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM).
(VDE 0884-749-26. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 26: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Human Body Model (HBM).)

Die Norm herausgegeben am 1.10.2018

Ausgewählte Ausführung:

Deutsch -

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in 7 Werktagen

E DIN EN IEC 60749-26:2025-10

Die Norm herausgegeben am 1.10.2025

Ausgewählte Ausführung:

Deutsch -

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61.50 €

in 7 Werktagen

DIN EN IEC 60749-28:2024-12

VDE 0884-749-28. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level.
(VDE 0884-749-28. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level.)

Die Norm herausgegeben am 1.12.2024

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Deutsch -

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in 7 Werktagen

DIN EN IEC 60749-5:2024-09

VDE 0884-749-5. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test.
(VDE 0884-749-5. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung.)

Die Norm herausgegeben am 1.9.2024

Ausgewählte Ausführung:

Deutsch -

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E DIN EN IEC 60749-7:2025-04

VDE 0884-749-7. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases.
(VDE 0884-749-7. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 7: Messung des inneren Feuchtegehalts und Analyse von anderen Restgasen.)

Die Norm herausgegeben am 1.4.2025

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Deutsch -

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