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IEC – Die Gesellschaft IEC ist eine vordere Weltorganisation, von der die Internationalen Normen für alle elektrischen, elektrotechnischen und zusammenhängende Technologien, zusammenfassend „Elektrotechnologien“ herausgegeben werden. Überall dort, wo sich Strom und Elektrotechnik befindet, findet man auch die Gesellschaft IEC, von der die Sicherheit und Leistung, Umwelt, Stromwirkung und erneuerbare Energie durchgesetzt werden. Von der Gesellschaft IEC werden auch Systeme zur Konformitätsbeurteilung verwaltet, die bescheinigen, dass Anlagen, Systeme oder Komponenten den Internationalen Normen dieser Gesellschaft entsprechen.
Expression of performance of electrochemical analyzers - Part 3: Electrolytic conductivity
(Expression des qualites de fonctionnement des analyseurs electrochimiques - Partie 3: Conductivite electrolytique)
Die Norm herausgegeben am 24.6.2002
Ausgewählte Ausführung:Corrigendum 1 - Expression of performance of electrochemical analyzers - Part 3: Electrolytic conductivity
Korrektur herausgegeben am 17.1.2003
Ausgewählte Ausführung:
Expression of performance of electrochemical analyzers - Part 4: Dissolved oxygen in water measured by membrane-covered amperometric sensors
(Expression des qualites de fonctionnement des analyseurs electrochimiques - Partie 4: Oxygene dissous dans l´eau mesure par des capteurs amperometriques recouverts d´une membrane)
Die Norm herausgegeben am 13.12.2018
Ausgewählte Ausführung:
Expression of performance of electrochemical analyzers - Part 5: Oxidation-reduction potential or redox potential
(Expression des qualites de fonctionnement des analyseurs electrochimiques - Partie 5: Potentiel d´oxydo-reduction ou potentiel redox)
Die Norm herausgegeben am 15.12.1992
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Part 1: General
(Dispositifs a semiconducteurs - Partie 1: Generalites)
Die Norm herausgegeben am 21.2.2006
Ausgewählte Ausführung:
Amendment 1 - Semiconductor devices - Part 1: General
(Amendement 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Partie 1: Generalites)
Änderung herausgegeben am 19.5.2010
Ausgewählte Ausführung:Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Part 1: General
Korrektur herausgegeben am 8.9.2008
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Part 1: General
(Dispositifs a semiconducteurs - Partie 1: Generalites)
Die Norm herausgegeben am 23.8.2010
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Part 14-1: Semiconductor sensors - Generic specification for sensors
(Dispositifs a semiconducteurs - Partie 14-1: Capteurs a semiconducteurs - Specification generique pour les capteurs)
Die Norm herausgegeben am 21.1.2010
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Part 14-10: Semiconductor sensors - Performance evaluation methods for wearable glucose sensors
(Dispositifs a semiconducteurs - Partie 14-10 : Capteurs a semiconducteurs - Methodes d’evaluation des performances des capteurs de glucose implantables)
Die Norm herausgegeben am 13.11.2019
Ausgewählte Ausführung:Letzte Aktualisierung: 2026-04-10 (Zahl der Positionen: 2 271 455)
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