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IEC - Internationale elektrotechnische Organisation - Seite Nr. 381

Normen IEC - Internationale elektrotechnische Organisation - Seite Nr. 381

IEC – Die Gesellschaft IEC ist eine vordere Weltorganisation, von der die Internationalen Normen für alle elektrischen, elektrotechnischen und zusammenhängende Technologien, zusammenfassend „Elektrotechnologien“ herausgegeben werden. Überall dort, wo sich Strom und Elektrotechnik befindet, findet man auch die Gesellschaft IEC, von der die Sicherheit und Leistung, Umwelt, Stromwirkung und erneuerbare Energie durchgesetzt werden. Von der Gesellschaft IEC werden auch Systeme zur Konformitätsbeurteilung verwaltet, die bescheinigen, dass Anlagen, Systeme oder Komponenten den Internationalen Normen dieser Gesellschaft entsprechen.

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Ansicht IEC 60747-14-11-ed.1.0 3.3.2021
IEC 60747-14-11-ed.1.0

Semiconductor devices - Part 14-11: Semiconductor sensors - Test method of surface acoustic wave-based integrated sensors for measuring ultraviolet, illumination and temperature

Die Norm herausgegeben am 3.3.2021

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Ansicht IEC 60747-14-2-ed.1.0 9.11.2000
IEC 60747-14-2-ed.1.0

Semiconductor devices - Part 14-2: Semiconductor sensors - Hall elements

Die Norm herausgegeben am 9.11.2000

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Ansicht IEC 60747-14-3-ed.2.0 29.4.2009
IEC 60747-14-3-ed.2.0

Semiconductor devices - Part 14-3: Semiconductor sensors - Pressure sensors
(Dispositifs a semiconducteurs - Partie 14-3: Capteurs a semiconducteurs - Capteurs de pression)

Die Norm herausgegeben am 29.4.2009

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Ansicht IEC 60747-14-4-ed.1.0 27.1.2011
IEC 60747-14-4-ed.1.0

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 14-4: Semiconductor accelerometers
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs discrets - Partie 14-4: Accelerometres a semiconducteurs)

Die Norm herausgegeben am 27.1.2011

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Ansicht IEC 60747-14-5-ed.1.0 11.2.2010
IEC 60747-14-5-ed.1.0

Semiconductor devices - Part 14-5: Semiconductor sensors - PN-junction semiconductor temperature sensor
(Dispositifs a semiconducteurs - Partie 14-5: Capteurs a semiconducteurs - Capteur de temperature a semiconducteurs a jonction PN)

Die Norm herausgegeben am 11.2.2010

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Ansicht IEC 60747-15-ed.3.0 22.10.2024
IEC 60747-15-ed.3.0

Semiconductor devices - Part 15: Discrete devices - Isolated power semiconductor devices
(Dispositifs a semiconducteurs - Partie 15: Dispositifs discrets - Dispositifs de puissance a semiconducteurs isoles)

Die Norm herausgegeben am 22.10.2024

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Ansicht IEC 60747-15-ed.3.0-RLV 22.10.2024
IEC 60747-15-ed.3.0-RLV

Semiconductor devices - Part 15: Discrete devices - Isolated power semiconductor devices

Die Norm herausgegeben am 22.10.2024

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Ansicht IEC 60747-16-1-ed.1.0 20.11.2001
IEC 60747-16-1-ed.1.0

Semiconductor devices - Part 16-1: Microwave integrated circuits - Amplifiers
(Dispositifs a semiconducteurs - Partie 16-1: Circuits integres hyperfrequences - Amplificateurs)

Die Norm herausgegeben am 20.11.2001

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Ansicht IEC 60747-16-1-ed.1.0/Amd.1 26.1.2007
IEC 60747-16-1-ed.1.0/Amd.1 Änderung

Amendment 1 - Semiconductor devices - Part 16-1: Microwave integrated circuits - Amplifiers
(Amendement 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Partie 16-1: Circuits integres hyperfrequences - Amplificateurs)

Änderung herausgegeben am 26.1.2007

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Ansicht IEC 60747-16-1-ed.1.0/Amd.2 15.2.2017
IEC 60747-16-1-ed.1.0/Amd.2 Änderung

Amendment 2 - Semiconductor devices - Part 16-1: Microwave integrated circuits - Amplifiers
(Amendement 2 - Dispositifs a semiconducteurs - Partie 16-1: Circuits integres hyperfrequences - Amplificateurs)

Änderung herausgegeben am 15.2.2017

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