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IEC – Die Gesellschaft IEC ist eine vordere Weltorganisation, von der die Internationalen Normen für alle elektrischen, elektrotechnischen und zusammenhängende Technologien, zusammenfassend „Elektrotechnologien“ herausgegeben werden. Überall dort, wo sich Strom und Elektrotechnik befindet, findet man auch die Gesellschaft IEC, von der die Sicherheit und Leistung, Umwelt, Stromwirkung und erneuerbare Energie durchgesetzt werden. Von der Gesellschaft IEC werden auch Systeme zur Konformitätsbeurteilung verwaltet, die bescheinigen, dass Anlagen, Systeme oder Komponenten den Internationalen Normen dieser Gesellschaft entsprechen.
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 8: Field-effect transistors
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs descrets - Partie 8: Transistors a effet de champ)
Die Norm herausgegeben am 15.12.2010
Ausgewählte Ausführung:Amendment 1 - Semiconductor devices - Discrete devices - Part 8: Field-effect transistors
Änderung herausgegeben am 25.6.2021
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices - Discrete devices - Part 8: Field-effect transistors
Die Norm herausgegeben am 25.6.2021
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Part 9: Discrete devices - Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs)
(Dispositifs a semiconducteurs - Partie 9: Dispositifs discrets - Transistors bipolaires a grille isolee (IGBT))
Die Norm herausgegeben am 13.11.2019
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 1: General
(Dispositifs a semiconducteurs - Circuits integres - Partie 1: Generalites)
Die Norm herausgegeben am 8.5.2002
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 11-1: Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits
(Dispositifs a semiconducteurs - Circuits integres - Partie 11-1: Examen visuel interne pour les circuits integres a semiconducteurs a l´exclusion des circuits hybrides)
Die Norm herausgegeben am 1.4.1992
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 11: Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits
(Dispositifs a semiconducteurs - Circuits integres - Partie 11: Specification intermediaire pour les circuits integres a semiconducteurs a l´exclusion des circuits hybrides)
Die Norm herausgegeben am 20.12.1990
Ausgewählte Ausführung:
Amendment 1 - Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 11: Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits
(Amendement 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Circuits integres - Partie 11: Specification intermediaire pour les circuits integres a semiconducteurs a l´exclusion des circuits hybrides)
Änderung herausgegeben am 6.6.1995
Ausgewählte Ausführung:
Amendment 2 - Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 11: Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits
(Amendement 2 - Dispositifs a semiconducteurs - Circuits integres - Onzieme partie: Specification intermediaire pour les circuits integres a semiconducteurs a l´exclusion des circuits hybrides)
Änderung herausgegeben am 16.4.1999
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2-1: Digital integrated circuits - Blank detail specification for bipolar monolithic digital integrated circuit gates (excluding uncommitted logic arrays)
(Dispositifs a semiconducteurs - Circuits integres - Partie 2-1: Circuits integres numeriques - Specification particuliere cadre pour les portes bipolaires a circuits integres monolithiques (non valable pour les reseaux logiques prediffuses))
Die Norm herausgegeben am 1.10.1991
Ausgewählte Ausführung:Letzte Aktualisierung: 2026-04-10 (Zahl der Positionen: 2 271 455)
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