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Normen JIS - Japanische technische Standards - Seite Nr. 340
Die Assoziation JIS befasst sich mit industriellen- und Mineralprodukten, vergleichbaren mit Normen, die von verschiedenen Industrieassoziationen zwecks Lösung konkreter Probleme, oder mit Normen, die von den Gesellschaften eingeführt und angewandt werden (Betriebsanleitungen, Produktspezifikationen usw.). Die Notwendigkeit eines gemeinsamen Verfahrens in den Gesellschaften des Industriesektors führt zur Einführung gemeinsamer Industrienormen sowie zur Erweiterung und folglich zur Entstehung der Assoziation JIS.
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JIS C5630-2:2009
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Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices-- Part 2: Tensile testing method of thin film materials
Die Norm herausgegeben am 20.3.2009
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JIS C5630-20:2015
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Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 20: Gyroscopes
Die Norm herausgegeben am 20.11.2015
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JIS C5630-26:2017
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Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 26: Description and measurement methods for micro trench and needle structures
Die Norm herausgegeben am 20.10.2017
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JIS C5630-28:2020
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Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 28: Performance testing method of vibration-driven MEMS electret energy harvesting devices
Die Norm herausgegeben am 23.3.2020
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JIS C5630-3:2009
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Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices-- Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing
Die Norm herausgegeben am 20.3.2009
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JIS C5630-30:2020
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Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 30: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of MEMS piezoelectric thin film
Die Norm herausgegeben am 23.3.2020
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JIS C5630-6:2011
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Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials
Die Norm herausgegeben am 22.8.2011
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JIS C5750-3-1:2006
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Dependability management -- Part 3-1: Application guide -- Analysis techniques for dependability -- Guide on methodology
Die Norm herausgegeben am 20.11.2006
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JIS C5750-3-2:2008
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Dependability management -- Part 3-2: Application guide -- Collection of dependability data from the field
Die Norm herausgegeben am 20.3.2008
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JIS C5750-3-3:2008
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Dependability management -- Part 3-3: Application guide -- Life cycle costing
Die Norm herausgegeben am 20.3.2008
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