Normen JIS - Japanische technische Standards - Seite Nr. 610

Testing methods of resistivity for germanium

Die Norm herausgegeben am 25.10.1962

Testing method of resistivity for silicon crystals and silicon wafers with four-point probe

Die Norm herausgegeben am 30.11.1995

Measurement of minority carrier life time in germanium by photoconductive decay method

Die Norm herausgegeben am 31.3.1978

Measuring of minority-carrier lifetime in silicon single crystal by photoconductive decay method

Die Norm herausgegeben am 31.7.1995

Determination of conductivity type in germanium by thermoelectromotive method

Die Norm herausgegeben am 10.3.1978

Test methods of crystalline defects in silicon by preferential etch techniques

Die Norm herausgegeben am 29.2.2000

Method of measurement of etch pit density of germanium crystal

Die Norm herausgegeben am 31.1.1967

Methods of measurement of thickness, thickness variation and bow for silicon wafer

Die Norm herausgegeben am 28.2.1994

Visual inspection for sliced and lapped silicon wafers

Die Norm herausgegeben am 5.1.1978

Visual inspection for silicon wafers with specular surfaces

Die Norm herausgegeben am 31.1.1996