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JIS - Japanische technische Standards - Seite Nr. 658

Normen JIS - Japanische technische Standards - Seite Nr. 658

Die Assoziation JIS befasst sich mit industriellen- und Mineralprodukten, vergleichbaren mit Normen, die von verschiedenen Industrieassoziationen zwecks Lösung konkreter Probleme, oder mit Normen, die von den Gesellschaften eingeführt und angewandt werden (Betriebsanleitungen, Produktspezifikationen usw.). Die Notwendigkeit eines gemeinsamen Verfahrens in den Gesellschaften des Industriesektors führt zur Einführung gemeinsamer Industrienormen sowie zur Erweiterung und folglich zur Entstehung der Assoziation JIS.

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JIS K0145:2002

Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectrometers -- Calibration of energy scales

Die Norm herausgegeben am 30.4.2002

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JIS K0146:2002

Surface chemical analysis -- Sputter depth profiling -- Optimization using layered systems as reference materials

Die Norm herausgegeben am 30.4.2002

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JIS K0147-1:2017

Surface chemical analysis -- Vocabulary -- Part 1: General terms and terms used in spectroscopy

Die Norm herausgegeben am 21.8.2017

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JIS K0147-2:2017

Surface chemical analysis -- Vocabulary -- Part 2: Terms used in scanning-probe microscopy

Die Norm herausgegeben am 21.8.2017

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JIS K0148:2005

Surface chemical analysis -- Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy

Die Norm herausgegeben am 20.3.2005

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JIS K0149-1:2019

Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Guidelines for calibrating image magnification

Die Norm herausgegeben am 20.11.2019

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JIS K0150:2020

Surface chemical analysis -- Analysis of zinc- and/or aluminium-based metallic coatings by glow-discharge optical-emission spectrometry

Die Norm herausgegeben am 20.7.2020

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JIS K0151:1983

Non-dispersive infrared gas analyzer

Die Norm herausgegeben am 31.1.1984

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JIS K0152:2014

Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Repeatability and constancy of intensity scale

Die Norm herausgegeben am 22.7.2014

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JIS K0153:2015

Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry

Die Norm herausgegeben am 20.10.2015

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