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JIS - Japanische technische Standards - Seite Nr. 658

Normen JIS - Japanische technische Standards - Seite Nr. 658

Die Assoziation JIS befasst sich mit industriellen- und Mineralprodukten, vergleichbaren mit Normen, die von verschiedenen Industrieassoziationen zwecks Lösung konkreter Probleme, oder mit Normen, die von den Gesellschaften eingeführt und angewandt werden (Betriebsanleitungen, Produktspezifikationen usw.). Die Notwendigkeit eines gemeinsamen Verfahrens in den Gesellschaften des Industriesektors führt zur Einführung gemeinsamer Industrienormen sowie zur Erweiterung und folglich zur Entstehung der Assoziation JIS.

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JIS K0139:2026

General rules for laser ablation ICP spectrometry

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JIS K0141:2000

Surface chemical analysis -- Data transfer format

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JIS K0142:2000

Surface chemical analysis -- Information formats

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JIS K0143:2023

Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials

Die Norm herausgegeben am 20.2.2023

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JIS K0144:2018

Surface chemical analysis -- Glow discharge optical emission spectrometry (GD-OES) -- Introduction to use

Die Norm herausgegeben am 20.2.2018

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JIS K0145:2002

Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectrometers -- Calibration of energy scales

Die Norm herausgegeben am 30.4.2002

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JIS K0146:2002

Surface chemical analysis -- Sputter depth profiling -- Optimization using layered systems as reference materials

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JIS K0147-1:2017

Surface chemical analysis -- Vocabulary -- Part 1: General terms and terms used in spectroscopy

Die Norm herausgegeben am 21.8.2017

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JIS K0147-2:2017

Surface chemical analysis -- Vocabulary -- Part 2: Terms used in scanning-probe microscopy

Die Norm herausgegeben am 21.8.2017

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JIS K0148:2026

Surface chemical analysis-Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy

Die Norm herausgegeben am 20.1.2026

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