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JIS - Japanische technische Standards - Seite Nr. 659

Normen JIS - Japanische technische Standards - Seite Nr. 659

Die Assoziation JIS befasst sich mit industriellen- und Mineralprodukten, vergleichbaren mit Normen, die von verschiedenen Industrieassoziationen zwecks Lösung konkreter Probleme, oder mit Normen, die von den Gesellschaften eingeführt und angewandt werden (Betriebsanleitungen, Produktspezifikationen usw.). Die Notwendigkeit eines gemeinsamen Verfahrens in den Gesellschaften des Industriesektors führt zur Einführung gemeinsamer Industrienormen sowie zur Erweiterung und folglich zur Entstehung der Assoziation JIS.

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JIS K0149-1:2019

Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Guidelines for calibrating image magnification

Die Norm herausgegeben am 20.11.2019

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JIS K0150:2020

Surface chemical analysis -- Analysis of zinc- and/or aluminium-based metallic coatings by glow-discharge optical-emission spectrometry

Die Norm herausgegeben am 20.7.2020

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JIS K0151:1983

Non-dispersive infrared gas analyzer

Die Norm herausgegeben am 31.1.1984

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Ansicht JIS K0152:2014 22.7.2014
JIS K0152:2014

Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Repeatability and constancy of intensity scale

Die Norm herausgegeben am 22.7.2014

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Ansicht JIS K0153:2015 20.10.2015
JIS K0153:2015

Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry

Die Norm herausgegeben am 20.10.2015

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JIS K0154:2017

Surface chemical analysis -- Guidelines for preparation and mounting of specimens for analysis

Die Norm herausgegeben am 21.8.2017

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JIS K0155:2025

Surface chemical analysis-Secondary ion mass spectrometry-Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers

Die Norm herausgegeben am 20.5.2025

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JIS K0156:2018

Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Method for depth calibration for silicon using multiple delta-layer reference materials

Die Norm herausgegeben am 20.8.2018

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JIS K0157:2021

Surface chemical analysis -- Secondary ion mass spectrometry -- Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer

Die Norm herausgegeben am 20.7.2021

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JIS K0158:2021

Surface chemical analysis -- Secondary ion mass spectrometry -- Correction method for saturated intensity in single ion counting dynamic secondary ion mass spectrometry

Die Norm herausgegeben am 20.7.2021

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