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Normen JIS - Japanische technische Standards - Seite Nr. 659

Die Assoziation JIS befasst sich mit industriellen- und Mineralprodukten, vergleichbaren mit Normen, die von verschiedenen Industrieassoziationen zwecks Lösung konkreter Probleme, oder mit Normen, die von den Gesellschaften eingeführt und angewandt werden (Betriebsanleitungen, Produktspezifikationen usw.). Die Notwendigkeit eines gemeinsamen Verfahrens in den Gesellschaften des Industriesektors führt zur Einführung gemeinsamer Industrienormen sowie zur Erweiterung und folglich zur Entstehung der Assoziation JIS.

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JIS K0154:2017

Surface chemical analysis -- Guidelines for preparation and mounting of specimens for analysis

Die Norm herausgegeben am 21.8.2017

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JIS K0155:2025

Surface chemical analysis-Secondary ion mass spectrometry-Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers

Die Norm herausgegeben am 20.5.2025

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JIS K0156:2018

Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Method for depth calibration for silicon using multiple delta-layer reference materials

Die Norm herausgegeben am 20.8.2018

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JIS K0157:2021

Surface chemical analysis -- Secondary ion mass spectrometry -- Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer

Die Norm herausgegeben am 20.7.2021

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JIS K0158:2021

Surface chemical analysis -- Secondary ion mass spectrometry -- Correction method for saturated intensity in single ion counting dynamic secondary ion mass spectrometry

Die Norm herausgegeben am 20.7.2021

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JIS K0159:2021

Surface chemical analysis -- Scanning-probe microscopy -- Determination of geometric quantities using SPM: Calibration of measuring systems

Die Norm herausgegeben am 22.11.2021

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JIS K0160:2009

Surface chemical analysis -- Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy

Die Norm herausgegeben am 20.7.2009

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JIS K0161:2010

Surface chemical analysis -- Auger electron spectroscopy -- Description of selected instrumental performance parameters

Die Norm herausgegeben am 20.4.2010

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