2. Herausgeber
  3. JIS - Nationale
JIS - Japanische technische Standards - Seite Nr. 660

Normen JIS - Japanische technische Standards - Seite Nr. 660

Die Assoziation JIS befasst sich mit industriellen- und Mineralprodukten, vergleichbaren mit Normen, die von verschiedenen Industrieassoziationen zwecks Lösung konkreter Probleme, oder mit Normen, die von den Gesellschaften eingeführt und angewandt werden (Betriebsanleitungen, Produktspezifikationen usw.). Die Notwendigkeit eines gemeinsamen Verfahrens in den Gesellschaften des Industriesektors führt zur Einführung gemeinsamer Industrienormen sowie zur Erweiterung und folglich zur Entstehung der Assoziation JIS.

Preisanzeige: ohne MWS
Angezeigte Währung: €
Ordnen nach:

Die Auswahl für "JIS - Japanische technische Standards - Seite Nr. 660" präzisieren nach:    


Ausgabejahr
Ansicht JIS K0159:2021 22.11.2021
JIS K0159:2021

Surface chemical analysis -- Scanning-probe microscopy -- Determination of geometric quantities using SPM: Calibration of measuring systems

Die Norm herausgegeben am 22.11.2021

Ausgewählte Ausführung:
Japanisch -
Elektronische PDF (AUF ANFRAGE)


Alle technischen Informationen anzeigen
AUF ANFRAGE


AUF LAGER
Ansicht JIS K0160:2026 20.1.2026
JIS K0160:2026

Surface chemical analysis-Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy

Die Norm herausgegeben am 20.1.2026

Ausgewählte Ausführung:
Japanisch -
Elektronische PDF (AUF ANFRAGE)


Alle technischen Informationen anzeigen
AUF ANFRAGE


AUF LAGER
Ansicht JIS K0161:2010 20.4.2010
JIS K0161:2010

Surface chemical analysis -- Auger electron spectroscopy -- Description of selected instrumental performance parameters

Die Norm herausgegeben am 20.4.2010

Ausgewählte Ausführung:
Japanisch -
Elektronische PDF (AUF ANFRAGE)


Alle technischen Informationen anzeigen
AUF ANFRAGE


AUF LAGER
Ansicht JIS K0162:2010 20.4.2010
JIS K0162:2010

Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Description of selected instrumental performance parameters

Die Norm herausgegeben am 20.4.2010

Ausgewählte Ausführung:
Japanisch -
Elektronische PDF (AUF ANFRAGE)


Alle technischen Informationen anzeigen
AUF ANFRAGE


AUF LAGER
Ansicht JIS K0163:2010 20.4.2010
JIS K0163:2010

Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials

Die Norm herausgegeben am 20.4.2010

Ausgewählte Ausführung:
Japanisch -
Elektronische PDF (AUF ANFRAGE)


Alle technischen Informationen anzeigen
AUF ANFRAGE


AUF LAGER
Ansicht JIS K0164:2023 20.2.2023
JIS K0164:2023

Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Method for depth profiling of boron in silicon

Die Norm herausgegeben am 20.2.2023

Ausgewählte Ausführung:
Japanisch -
Elektronische PDF (AUF ANFRAGE)


Alle technischen Informationen anzeigen
AUF ANFRAGE


AUF LAGER
Ansicht JIS K0165:2011 20.5.2011
JIS K0165:2011

Surface chemical analysis -- Medium-resolution Auger electron spectrometers -- Calibration of energy scales for elemental analysis

Die Norm herausgegeben am 20.5.2011

Ausgewählte Ausführung:
Japanisch -
Elektronische PDF (AUF ANFRAGE)


Alle technischen Informationen anzeigen
AUF ANFRAGE


AUF LAGER
Ansicht JIS K0166:2011 20.5.2011
JIS K0166:2011

Surface chemical analysis -- High-resolution Auger electron spectrometers -- Calibration of energy scales for elemental and chemical-state analysis

Die Norm herausgegeben am 20.5.2011

Ausgewählte Ausführung:
Japanisch -
Elektronische PDF (AUF ANFRAGE)


Alle technischen Informationen anzeigen
AUF ANFRAGE


AUF LAGER
Ansicht JIS K0167:2011 22.3.2011
JIS K0167:2011

Surface chemical analysis -- Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy -- Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials

Die Norm herausgegeben am 22.3.2011

Ausgewählte Ausführung:
Japanisch -
Elektronische PDF (AUF ANFRAGE)


Alle technischen Informationen anzeigen
AUF ANFRAGE


AUF LAGER
Ansicht JIS K0168:2011 22.3.2011
JIS K0168:2011

Surface chemical analysis -- Information format for static secondary-ion mass spectrometry

Die Norm herausgegeben am 22.3.2011

Ausgewählte Ausführung:
Japanisch -
Elektronische PDF (AUF ANFRAGE)


Alle technischen Informationen anzeigen
AUF ANFRAGE


AUF LAGER

Angezeigter Eintrag von 6590 bis 6600 aus gesamt 11847 Einträgen.

Brauchen Sie Hilfe?

Letzte Aktualisierung: 2026-09-03 (Zahl der Positionen: 2 300 115)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.



Cookies Cookies

Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.

Sie können die Zustimmung verweigern hier.

Cookies Cookie - Einstellungen
Schliessen

Hier können Sie Ihre Cookie-Einstellungen nach Ihren Wünschen anpassen.

Technische Cookies
Diese Cookies sind für das ordnungsgemäße Funktionieren der Website und aller Funktionen, die die Website bietet, unerlässlich. Technische Cookies können nicht deaktiviert werden, da sie für das Speichern von Produkten im Warenkorb, das Einrichten von Filtern, das Durchführen des Einkaufsvorgangs, die Favoritenliste und die Datenschutzeinstellungen verantwortlich sind.
Mehr anzeigen
Analytische Cookies
Analytische Cookies ermöglichen es uns, die Leistung unserer Website und unserer Werbekampagnen zu messen. Sie werden verwendet, um die Anzahl der Besuche und die Quellen der Besuche auf unserer Website zu ermitteln. Wir verarbeiten die durch diese Cookies gewonnenen Daten summarisch, ohne Verwendung von Kennungen, die auf bestimmte Benutzer unserer Website verweisen. Wenn Sie die Verwendung von Analyse-Cookies in Bezug auf Ihren Besuch deaktivieren, verlieren wir die Möglichkeit, die Leistung zu analysieren und unsere Aktionen zu optimieren.
Mehr anzeigen
Personalisierte Cookies
Wir verwenden Cookies und andere Technologien auch, um unser Geschäft auf die Bedürfnisse und Interessen unserer Kunden auszurichten und Ihnen ein außergewöhnliches Einkaufserlebnis zu bereiten. Durch die Verwendung personalisierter Cookies können wir die Erklärung unerwünschter Informationen, wie beispielsweise unangemessene Produktempfehlungen oder nutzlose Sonderangebote, vermeiden. Darüber hinaus ermöglicht uns der Einsatz personalisierter Cookies, Ihnen zusätzliche Funktionen anzubieten, wie zum Beispiel auf Ihre Bedürfnisse zugeschnittene Produktempfehlungen.
Mehr anzeigen
Werbe-Cookies
Werbe-Cookies werden von uns oder unseren Partnern verwendet, damit wir sowohl auf unserer Website als auch auf den Websites Dritter passende Inhalte oder Werbung anzeigen können. Dadurch können wir auf Grundlage Ihrer Interessen Profile erstellen, sogenannte pseudonymisierte Profile. Anhand dieser Informationen ist es in der Regel nicht möglich, Sie sofort zu identifizieren, da ausschließlich pseudonymisierte Daten verwendet werden. Wenn Sie nicht einverstanden sind, werden Sie nicht der Empfänger von Inhalten und Anzeigen, die auf Ihre Interessen zugeschnitten sind.
Mehr anzeigen

Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können.