ASTM E1438-11

Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS

Automatische name übersetzung:

Standard-Leitfaden zur Messung von Breiten von Schnittstellen in der Tiefenprofilierung Mit SIMS



NORM herausgegeben am 1.11.2011


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
Preis61.50 ohne MWS
61.50

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM E1438-11
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.11.2011
SKU: NS-41752
Zahl der Seiten: 3
Gewicht ca.: 9 g (0.02 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Kategorie - ähnliche Normen:

Semiconducting materials

Die Annotation des Normtextes ASTM E1438-11 :

Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)

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