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Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21: Test method for Poisson´s ratio of thin film MEMS materials
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mikroelektrogeräte- Teil 21 : Prüfverfahren für Verhältnis von Dünnschichtmaterialien Poisson- MEMS. ( In Englisch, ist der Text Teil einer Kopie ).
NORM herausgegeben am 1.4.2015
Bezeichnung normen: ČSN EN 62047-21
Zeichen: 358775
Katalog-Nummer: 97102
Ausgabedatum normen: 1.4.2015
SKU: NS-583615
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
Semiconductor devices in generalElectromechanical components in general
Tato norma definuje stanovení Poissonova poměru z výsledků měření, které jsou získány pomocí zatěžování tenkovrstvých mikroelektromechanických systémů (MEMS) v jedné, nebo dvou osách. Jedná se o vzorky, které mají délku a šířku menší jak 10 mm a tloušťku menší jak 10 _m
1.7.2011
1.12.2010
1.1.2011
1.11.2010
1.4.2015
1.4.2015
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Letzte Aktualisierung: 2025-05-08 (Zahl der Positionen: 2 198 869)
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