ČSN EN 120003
STN EN 150003
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DIN EN 62373:2007-01
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).
Automatische name übersetzung:
Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET).
NORM herausgegeben am 1.1.2007
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: DIN EN 62373:2007-01
Ausgabedatum normen: 1.1.2007
SKU: NS-239812
Zahl der Seiten: 14
Gewicht ca.: 42 g (0.09 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
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Die Annotation des Normtextes DIN EN 62373:2007-01 :
Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET).
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