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IEC 60749-16-ed.1.0
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 16: Partikeltrittschall-Detektion (PIND)
NORM herausgegeben am 17.1.2003
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEC 60749-16-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 17.1.2003
SKU: NS-411373
Zahl der Seiten: 13
Gewicht ca.: 39 g (0.09 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
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Die Annotation des Normtextes IEC 60749-16-ed.1.0 :
Defines a test aiming at detecting the presence of loose particles inside a cavity device such as, for example, chips of ceramic, pieces of bonding wire or solder balls (prills). Definit un essai permettant de detecter la presence de particules libres a linterieur dun dispositif a cavite, comme des particules de ceramique, des elements de fil de liaison ou des boules de brasure (granules).
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