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IEC 62416-ed.1.0
Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Hot Trägertest-MOS-Transistoren
NORM herausgegeben am 26.4.2010
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEC 62416-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 26.4.2010
SKU: NS-414599
Zahl der Seiten: 20
Gewicht ca.: 60 g (0.13 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
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Die Annotation des Normtextes IEC 62416-ed.1.0 :
IEC 62416:2010 describes the wafer level hot carrier test on NMOS and PMOS transistors. The test is intended to determine whether the single transistors in a certain (C)MOS process meet the required hot carrier lifetime. La CEI 62416:2010 decrit lessai de porteur chaud au niveau de la plaquette sur les transistors NMOS et PMOS. Cet essai est destine a determiner si les transistors individuels sont conformes a la duree de vie exigee du porteur chaud dans un processus (C)MOS donne.
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