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IEC 62373-ed.1.0
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
Automatische name übersetzung:
Bias-Temperatur-Stabilitätstest für Metalloxid-Halbleiter-Feldeffekttransistoren (MOSFET)
NORM herausgegeben am 18.7.2006
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEC 62373-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 18.7.2006
SKU: NS-414553
Zahl der Seiten: 27
Gewicht ca.: 81 g (0.18 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
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Die Annotation des Normtextes IEC 62373-ed.1.0 :
Provides a test procedure for a bias-temperature (BT) stability test of metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) Fournit une procedure dessai pour la stabilite de temperature en polarisation (essai BT) des MOSFET (transistor a effet de champ metaloxyde-semiconducteurs)
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