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IEC 62415-ed.1.0
Semiconductor devices - Constant current electromigration test
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Konstantstrom-Elektromigrationstest
NORM herausgegeben am 19.5.2010
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEC 62415-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 19.5.2010
SKU: NS-414598
Zahl der Seiten: 22
Gewicht ca.: 66 g (0.15 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
Kategorie - ähnliche Normen:
Die Annotation des Normtextes IEC 62415-ed.1.0 :
IEC 62415:2010 describes a method for conventional constant current electromigration testing of metal lines, via string and contacts. La CEI 62415:2010 decrit une methode pour des essais conventionnels delectromigration en courant constant de lignes metalliques, de chaines de trous de liaison et de contacts de trous de liaison.
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