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Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Elektromechanische Mikrobauteile. Teil 3: Dünnschicht-Standardteststücke für den Zugversuch (IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.6.2007
Sprache | |
Realisierung |
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Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
Preis | AUF ANFRAGE ohne MWS |
AUF ANFRAGE |
Bezeichnung normen: STN EN 62047-3
Zeichen: 358792
Katalog-Nummer: 103753
Ausgabedatum normen: 1.6.2007
SKU: NS-531601
Zahl der Seiten: 15
Gewicht ca.: 45 g (0.10 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
UNGÜLTIG
1.4.2009
UNGÜLTIG
1.4.2007
1.2.2011
1.11.2011
1.6.2013
1.6.2007
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Letzte Aktualisierung: 2024-03-25 (Zahl der Positionen: 2 885 931)
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