TNI CLC/TR 62258-4..
Cookies
Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
STN EN 62047-3 (358792)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Elektromechanische Mikrobauteile. Teil 3: Dünnschicht-Standardteststücke für den Zugversuch (IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.6.2007
| Sprache | |
| Realisierung |
|
| Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
| Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: STN EN 62047-3
Zeichen: 358792
Katalog-Nummer: 103753
Ausgabedatum normen: 1.6.2007
SKU: NS-531601
Zahl der Seiten: 15
Gewicht ca.: 45 g (0.10 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
Wir empfehlen eine ähnliche Norm!!
ČSN EN 62047-3 (01.05.2007)Kategorie - ähnliche Normen:
Ähnliche Normen:
UNGÜLTIG
1.4.2009
UNGÜLTIG
1.4.2007
1.2.2011
1.11.2011
1.6.2013
1.6.2007
