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STN EN 62047-8 (358792)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices -- Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Elektromechanische Mikrobauteile. Teil 8: Prüfverfahren für die Messung der Biegestreifen dünner Schichten unter Zugspannung (IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.8.2011
| Sprache | |
| Realisierung |
|
| Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
| Preis | AUF ANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: STN EN 62047-8
Zeichen: 358792
Katalog-Nummer: 113687
Ausgabedatum normen: 1.8.2011
SKU: NS-531606
Gewicht ca.: 30 g (0.07 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
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