Cookies
Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 23: High temperature operating life
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Hochtemperatur LEBEN
NORM herausgegeben am 21.12.2011
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011
Anmerkung: Änderung
Ausgabedatum normen: 21.12.2011
SKU: NS-560999
Zahl der Seiten: 14
Gewicht ca.: 42 g (0.09 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE
Kategorie - ähnliche Normen:
Diese Änderung (Korrektur) bezieht sich auf diese Norm:
UNE-EN 60749-23:2005
Alle technischen Informationen anzeigen
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 23: High temperature operating life
Die Norm herausgegeben am 16.3.2005
Ausgewählte Ausführung:Alle technischen Informationen anzeigen
Empfehlungen:
Aktualisierung der Gesetze
Wollen Sie sich sicher sein, dass Sie nur die gültigen technischen Vorschriften verwenden?
Wir bieten Ihnen Lösungen, damit Sie immer nur die gültigen (aktuellen) legislativen Vorschriften verwenden könnten.
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
