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UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 23: High temperature operating life
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Hochtemperatur LEBEN
NORM herausgegeben am 21.12.2011
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011
Anmerkung: Änderung
Ausgabedatum normen: 21.12.2011
SKU: NS-560999
Zahl der Seiten: 14
Gewicht ca.: 42 g (0.09 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE
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Diese Änderung (Korrektur) bezieht sich auf diese Norm:
UNE-EN 60749-23:2005
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 23: High temperature operating life
Die Norm herausgegeben am 16.3.2005
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