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UNE-EN 60749-23:2005
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 23: High temperature operating life
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Hochtemperatur-LEBENSDAUER
NORM herausgegeben am 16.3.2005
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-23:2005
Ausgabedatum normen: 16.3.2005
SKU: NS-561000
Zahl der Seiten: 25
Gewicht ca.: 75 g (0.17 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE
Kategorie - ähnliche Normen:
Zugehörige Änderungen zu dieser Norm:
UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011
Änderung
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 23: High temperature operating life
Änderung herausgegeben am 21.12.2011
Ausgewählte Ausführung:Alle technischen Informationen anzeigen
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