Die Norm UNE-EN 60749-27:2006 1.11.2006 Ansicht

UNE-EN 60749-27:2006

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (IEC 60749-27:2006) (Endorsed by AENOR in November of 2006.)

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NORM herausgegeben am 1.11.2006


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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-27:2006
Ausgabedatum normen: 1.11.2006
SKU: NS-1118060
Zahl der Seiten: 17
Gewicht ca.: 51 g (0.11 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE

Kategorie - ähnliche Normen:

Semiconductor devices in general

Zugehörige Änderungen zu dieser Norm:

UNE-EN 60749-27:2006/A1:2012 Änderung

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (Endorsed by AENOR in January of 2013.)

Änderung herausgegeben am 1.1.2013

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