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UNE-EN 60749-27:2006/A1:2012
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (Endorsed by AENOR in January of 2013.)
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NORM herausgegeben am 1.1.2013
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-27:2006/A1:2012
Anmerkung: Änderung
Ausgabedatum normen: 1.1.2013
SKU: NS-1118059
Zahl der Seiten: 11
Gewicht ca.: 33 g (0.07 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE
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Diese Änderung (Korrektur) bezieht sich auf diese Norm:
UNE-EN 60749-27:2006
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (IEC 60749-27:2006) (Endorsed by AENOR in November of 2006.)
Die Norm herausgegeben am 1.11.2006
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