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BS - Britische nationale Normen - Seite Nr. 4021

Normen BS - Britische nationale Normen - Seite Nr. 4021

BSi – die Gesellschaft BSi British Standards ist eine nationale Standardisierungsbehörde in Großbritannien (NSB) und als solche war sie die erste in der Welt. Sie vertritt wirtschaftliche und gesellschaftliche Interessen von Großbritannien in allen europäischen und internationalen Standardisierungsorganisationen auch im Rahmen der Entwicklung neuer Lösungen von betrieblichen Informationen für britische Organisationen aller Größen und Branchen. Die Gesellschaft BSi British Standards arbeitet mit Produktionsindustrie sowie mit Dienstleistungsindustrie, mit Betrieben, Regierungen und Verbrauchern zusammen, um die Bildung der britischen, europäischen und internationalen Normen zu erleichtern. Ein Bestandteil der Organisation BSI Group, die Gesellschaft BSI British Standards, arbeitet mit der Regierung Großbritanniens eng zusammen, insbesondere mittels der Abteilung für Innovationen, Universitäten und Fertigkeiten (DIUS).

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BS EN 62047-21:2014

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Test method for Poisson´s ratio of thin film MEMS materials.

Die Norm herausgegeben am 31.10.2014

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BS EN 62047-22:2014

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates.

Die Norm herausgegeben am 31.10.2014

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BS EN 62047-25:2016

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Silicon based MEMS fabrication technology. Measurement method of pull-press and shearing strength of micro bonding area.

Die Norm herausgegeben am 30.11.2016

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BS EN 62047-26:2016

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Description and measurement methods for micro trench and needle structures.

Die Norm herausgegeben am 31.5.2016

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Ansicht BS IEC 62047-27:2017 22.7.2020
BS IEC 62047-27:2017

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Bond strength test for glass frit bonded structures using micro-chevron-tests (MCT).

Die Norm herausgegeben am 22.7.2020

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Ansicht BS IEC 62047-28:2017 22.7.2020
BS IEC 62047-28:2017

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Performance testing method of vibration-driven MEMS electret energy harvesting devices.

Die Norm herausgegeben am 22.7.2020

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Ansicht BS IEC 62047-29:2017 15.3.2018
BS IEC 62047-29:2017

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Electromechanical relaxation test method for freestanding conductive thin-films under room temperature.

Die Norm herausgegeben am 15.3.2018

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BS EN 62047-3:2006

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Thin film standard test piece for tensile testing.

Die Norm herausgegeben am 30.11.2006

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Ansicht BS IEC 62047-30:2017 9.10.2017
BS IEC 62047-30:2017

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of MEMS piezoelectric thin film.

Die Norm herausgegeben am 9.10.2017

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Ansicht BS IEC 62047-31:2019 17.4.2019
BS IEC 62047-31:2019

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Four-point bending test method for interfacial adhesion energy of layered MEMS materials.

Die Norm herausgegeben am 17.4.2019

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