Normen DIN - Deutsche nationale Normen - Seite Nr. 16518

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST).
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 4: Feuchte Wärme, konstant, Prüfung mit hochbeschleunigter Wirkung (HAST).)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.4.2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST).
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 4: Feuchte Wärme, konstant, Prüfung mit hochbeschleunigter Wirkung (HAST).)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.6.2016

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge.
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 40: Prüfverfahren Fall der Leiterplatte unter Verwendung von Dehnungsmessstreifen.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.6.2009

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Reliability testing methods of non-volatile memory devices.
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 41: Zuverlässigkeitsprüfverfahren für nichtflüchtige Speicher-Bauelemente.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.4.2017

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature humidity storage.
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 42: Lagerung bei feuchter Wärme.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.7.2012

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plan.
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 43: Leitfaden zur Planung der Zuverlässigkeitsqualifikation von integrierten Schaltungen.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.10.2013

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans.
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 43: Leitfaden Pläne zur Zuverlässigkeitsqualifikation von integrierten Schaltungen.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.5.2018

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices.
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 44: Prüfverfahren zur Einzelereignis-Effekt-Neutronenbestrahlung von Halbleiterbauelementen.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.8.2014

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady state temperature humidity bias life test.
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter Vorspannung.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.6.2002

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test.
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung.)

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.9.2003