Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-2: Test 25b - Attenuation (insertion loss)
(Connecteurs pour equipements electroniques - Essais et mesures - Partie 25-2: Essai 25b - Attenuation (perte d'insertion))

Die Norm herausgegeben am 12.3.2002

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-3: Test 25c - Rise time degradation
(Connecteurs pour equipements electroniques - Essais et mesures - Partie 25-3: Essai 25c - Degradation du temps de montee)

Die Norm herausgegeben am 26.7.2001

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-4: Test 25d - Propagation delay
(Connecteurs pour equipements electroniques - Essais et mesures - Partie 25-4: Essai 25d - Retard de propagation)

Die Norm herausgegeben am 26.7.2001

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-5: Test 25e - Return loss
(Connecteurs pour equipements electroniques - Essais et mesures - Partie 25-5: Essai 25e - Affaiblissement de reflexion)

Die Norm herausgegeben am 15.7.2004

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-6: Test 25f: Eye pattern and jitter
(Connecteurs pour equipements electroniques - Essais et mesures - Partie 25-6: Essai 25f: Diagramme de l'oeil et gigue)

Die Norm herausgegeben am 26.5.2004

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-7: Test 25g - Impedance, reflection coefficient, and voltage standing wave ratio (VSWR)
(Connecteurs pour equipements electroniques - Essais et mesures - Partie 25-7: Essai 25g - Impedance, coefficient de reflexion, et rapport d'ondes stationnaires en tension (VSWR))

Die Norm herausgegeben am 15.12.2004

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-9: Signal integrity tests - Test 25i: Alien crosstalk
(Connecteurs pour equipements electroniques - Essais et mesures - Partie 25-9: Essais d'integrite des signaux - Essai 25i: Diaphonie exogene)

Die Norm herausgegeben am 28.8.2008

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 26-100: Measurement setup, test and reference arrangements and measurements for connectors according to IEC 60603-7 - Tests 26a to 26g
(Connecteurs pour equipements electroniques - Essais et mesures - Partie 26-100: Montage de mesure, dispositifs d´essai et de reference et mesures pour les connecteurs conformes a la CEI 60603-7 - Essais 26a a 26g)

Die Norm herausgegeben am 21.7.2008

Amendment 1 - Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 26-100: Measurement setup, test and reference arrangements and measurements for connectors according to IEC 60603-7 - Tests 26a to 26g
(Amendement 1 - Connecteurs pour equipements electroniques - Essais et mesures - Partie 26-100: Montage de mesure, dispositifs d´essai et de reference et mesures pour les connecteurs conformes a la CEI 60603-7 - Essais 26a a 26g)

Änderung herausgegeben am 14.3.2011

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 26-100: Measurement setup, test and reference arrangements and measurements for connectors according to IEC 60603-7 - Tests 26a to 26g
(Connecteurs pour equipements electroniques - Essais et mesures - Partie 26-100: Montage de mesure, dispositifs d´essai et de reference et mesures pour les connecteurs conformes a la CEI 60603-7 - Essais 26a a 26g)

Die Norm herausgegeben am 25.5.2011