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IEC 62397-ed.2.0

Nuclear power plants - Instrumentation and control important to safety - Resistance temperature detectors
(Centrales nucleaires de puissance - Instrumentation et controle-commande importants pour la surete - Sondes a resistance)

Die Norm herausgegeben am 23.11.2022

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339.40


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IEC/TS 62398-ed.1.0

Ferrite cores - Technology approval schedule (TAS)

Die Norm herausgegeben am 12.10.2004

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150.10


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IEC 62401-ed.2.0

Radiation protection instrumentation - Alarming personal radiation devices (PRDs) for the detection of illicit trafficking of radioactive material
(Instrumentation pour la radioprotection - Dispositifs individuels d´alarme aux rayonnements pour la detection du trafic illicite des matieres radioactives)

Die Norm herausgegeben am 15.12.2017

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208.90


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IEC 62402-ed.2.0

Obsolescence management
(Gestion de l´obsolescence)

Die Norm herausgegeben am 29.5.2019

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385.10


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IEC 62403-ed.1.0

High density recording format on CD-R/RW disc systems - HD-BURN format
(Format d´enregistrement a haute densite sur un systeme a disque CD-R/RW - Format HD-BURN)

Die Norm herausgegeben am 24.6.2005

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274.10


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IEC/TS 62404-ed.1.0

Logic digital integrated circuits - Specification for I/O interface model for integrated circuit (IMIC version 1.3)

Die Norm herausgegeben am 20.2.2007

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496.00


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IEC 62415-ed.1.0

Semiconductor devices - Constant current electromigration test
(Dispositifs a semiconducteurs - Essai d´electromigration en courant constant)

Die Norm herausgegeben am 19.5.2010

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52.20


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IEC 62416-ed.1.0

Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors
(Dispositifs a semiconducteurs - Essai de porteur chaud sur les transistors MOS)

Die Norm herausgegeben am 26.4.2010

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52.20


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IEC 62417-ed.1.0

Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs)
(Dispositifs a semiconducteurs - Essais d´ions mobiles pour transistors a semiconducteurs a oxyde metallique a effet de champ (MOSFETs))

Die Norm herausgegeben am 22.4.2010

Ausgewählte Ausführung:

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26.10


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IEC 62418-ed.1.0

Semiconductor devices - Metallization stress void test
(Dispositifs a semiconducteurs - Essai sur les cavites dues aux contraintes de la metallisation)

Die Norm herausgegeben am 22.4.2010

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150.10


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