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IEC - Internationale elektrotechnische Organisation - Seite Nr. 801

Normen IEC - Internationale elektrotechnische Organisation - Seite Nr. 801

IEC – Die Gesellschaft IEC ist eine vordere Weltorganisation, von der die Internationalen Normen für alle elektrischen, elektrotechnischen und zusammenhängende Technologien, zusammenfassend „Elektrotechnologien“ herausgegeben werden. Überall dort, wo sich Strom und Elektrotechnik befindet, findet man auch die Gesellschaft IEC, von der die Sicherheit und Leistung, Umwelt, Stromwirkung und erneuerbare Energie durchgesetzt werden. Von der Gesellschaft IEC werden auch Systeme zur Konformitätsbeurteilung verwaltet, die bescheinigen, dass Anlagen, Systeme oder Komponenten den Internationalen Normen dieser Gesellschaft entsprechen.

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Ansicht IEC 62047-37-ed.1.0 28.4.2020
IEC 62047-37-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 37: Environmental test methods of MEMS piezoelectric thin films for sensor application
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 37: Methodes d’essai d’environnement des couches minces piezoelectriques MEMS pour les applications de type capteur)

Die Norm herausgegeben am 28.4.2020

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Ansicht IEC 62047-38-ed.1.0 23.6.2021
IEC 62047-38-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 38: Test method for adhesion strength of metal powder paste in MEMS interconnection

Die Norm herausgegeben am 23.6.2021

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Ansicht IEC 62047-4-ed.2.0 7.1.2026
IEC 62047-4-ed.2.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 4: Generic specification for MEMS

Die Norm herausgegeben am 7.1.2026

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Ansicht IEC 62047-4-ed.2.0-RLV 7.1.2026
IEC 62047-4-ed.2.0-RLV

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 4: Generic specification for MEMS

Die Norm herausgegeben am 7.1.2026

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Ansicht IEC 62047-40-ed.1.0 3.9.2021
IEC 62047-40-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 40:Test methods of micro-electromechanical inertial shock switch threshold

Die Norm herausgegeben am 3.9.2021

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Ansicht IEC 62047-41-ed.1.0 15.6.2021
IEC 62047-41-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 41: RF MEMS circulators and isolators
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 41: Circulateurs et isolateurs a MEMS RF)

Die Norm herausgegeben am 15.6.2021

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Ansicht IEC 62047-42-ed.1.0 16.9.2022
IEC 62047-42-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 42: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of piezoelectric MEMS cantilever

Die Norm herausgegeben am 16.9.2022

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IEC 62047-43-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 43: Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible micro-electromechanical devices

Die Norm herausgegeben am 19.3.2024

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Ansicht IEC 62047-44-ed.1.0 22.2.2024
IEC 62047-44-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 44: Test methods for dynamic performances of MEMS resonant electric-field-sensitive devices

Die Norm herausgegeben am 22.2.2024

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Ansicht IEC 62047-45-ed.1.0 20.3.2025
IEC 62047-45-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 45: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of impact resistance of nanostructures

Die Norm herausgegeben am 20.3.2025

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