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IEC – Die Gesellschaft IEC ist eine vordere Weltorganisation, von der die Internationalen Normen für alle elektrischen, elektrotechnischen und zusammenhängende Technologien, zusammenfassend „Elektrotechnologien“ herausgegeben werden. Überall dort, wo sich Strom und Elektrotechnik befindet, findet man auch die Gesellschaft IEC, von der die Sicherheit und Leistung, Umwelt, Stromwirkung und erneuerbare Energie durchgesetzt werden. Von der Gesellschaft IEC werden auch Systeme zur Konformitätsbeurteilung verwaltet, die bescheinigen, dass Anlagen, Systeme oder Komponenten den Internationalen Normen dieser Gesellschaft entsprechen.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 46: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of tensile strength of nanoscale thickness membrane
Die Norm herausgegeben am 23.4.2025
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 47: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of bending strength of microstructures
Die Norm herausgegeben am 23.8.2024
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 48: Test method for determining solution concentration by optical absorption using MEMS fluidic device
Die Norm herausgegeben am 7.6.2024
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 49: Temperature and humidity test methods for piezoelectric MEMS cantilevers
Die Norm herausgegeben am 25.11.2025
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 5: RF MEMS switches
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 5: Commutateurs MEMS-RF)
Die Norm herausgegeben am 13.7.2011
Ausgewählte Ausführung:
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 5: RF MEMS switches
(Corrigendum 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 5: Commutateurs MEMS-RF)
Korrektur herausgegeben am 8.3.2012
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 50: MEMS capacitive microphones
Die Norm herausgegeben am 29.4.2025
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 52: Biaxial tensile testing method for stretchable MEMS
Die Norm herausgegeben am 4.3.2026
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 53: MEMS electrothermal transfer device
Die Norm herausgegeben am 2.10.2025
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 6: Methodes d´essais de fatigue axiale des materiaux en couche mince)
Die Norm herausgegeben am 7.4.2009
Ausgewählte Ausführung:Letzte Aktualisierung: 2026-04-08 (Zahl der Positionen: 2 271 105)
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