IEC - Internationale elektrotechnische Organisation - Seite Nr. 802

Normen IEC - Internationale elektrotechnische Organisation - Seite Nr. 802

IEC – Die Gesellschaft IEC ist eine vordere Weltorganisation, von der die Internationalen Normen für alle elektrischen, elektrotechnischen und zusammenhängende Technologien, zusammenfassend „Elektrotechnologien“ herausgegeben werden. Überall dort, wo sich Strom und Elektrotechnik befindet, findet man auch die Gesellschaft IEC, von der die Sicherheit und Leistung, Umwelt, Stromwirkung und erneuerbare Energie durchgesetzt werden. Von der Gesellschaft IEC werden auch Systeme zur Konformitätsbeurteilung verwaltet, die bescheinigen, dass Anlagen, Systeme oder Komponenten den Internationalen Normen dieser Gesellschaft entsprechen.

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IEC 62047-46-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 46: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of tensile strength of nanoscale thickness membrane

Die Norm herausgegeben am 23.4.2025

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103.90


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IEC 62047-47-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 47: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of bending strength of microstructures

Die Norm herausgegeben am 23.8.2024

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IEC 62047-48-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 48: Test method for determining solution concentration by optical absorption using MEMS fluidic device

Die Norm herausgegeben am 7.6.2024

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IEC 62047-49-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 49: Temperature and humidity test methods for piezoelectric MEMS cantilevers

Die Norm herausgegeben am 25.11.2025

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26.00


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IEC 62047-5-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 5: RF MEMS switches
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 5: Commutateurs MEMS-RF)

Die Norm herausgegeben am 13.7.2011

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337.70


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IEC 62047-5-ed.1.0/Cor.1 Korrektur

Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 5: RF MEMS switches
(Corrigendum 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 5: Commutateurs MEMS-RF)

Korrektur herausgegeben am 8.3.2012

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1.30


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IEC 62047-50-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 50: MEMS capacitive microphones

Die Norm herausgegeben am 29.4.2025

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IEC 62047-52-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 52: Biaxial tensile testing method for stretchable MEMS

Die Norm herausgegeben am 4.3.2026

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IEC 62047-53-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 53: MEMS electrothermal transfer device

Die Norm herausgegeben am 2.10.2025

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IEC 62047-6-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 6: Methodes d´essais de fatigue axiale des materiaux en couche mince)

Die Norm herausgegeben am 7.4.2009

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