Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
IEC – Die Gesellschaft IEC ist eine vordere Weltorganisation, von der die Internationalen Normen für alle elektrischen, elektrotechnischen und zusammenhängende Technologien, zusammenfassend „Elektrotechnologien“ herausgegeben werden. Überall dort, wo sich Strom und Elektrotechnik befindet, findet man auch die Gesellschaft IEC, von der die Sicherheit und Leistung, Umwelt, Stromwirkung und erneuerbare Energie durchgesetzt werden. Von der Gesellschaft IEC werden auch Systeme zur Konformitätsbeurteilung verwaltet, die bescheinigen, dass Anlagen, Systeme oder Komponenten den Internationalen Normen dieser Gesellschaft entsprechen.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 7: MEMS BAW filter and duplexer for radio frequency control and selection
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 7: Filtre et duplexeur BAW MEMS pour la commande et le choix des frequences radioelectriques)
Die Norm herausgegeben am 16.6.2011
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 8: Methode d´essai de la flexion de bandes en vue de la mesure des proprietes de traction des couches minces)
Die Norm herausgegeben am 14.3.2011
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 9: Wafer to wafer bonding strength measurement for MEMS
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositif microelectromecaniques - Partie 9: Mesure de la resistance de collage de deux plaquettes pour les MEMS)
Die Norm herausgegeben am 13.7.2011
Ausgewählte Ausführung:
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 9: Wafer to wafer bonding strength measurement for MEMS
(Corrigendum 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 9: Mesure de la resistance de collage de deux plaquettes pour les MEMS)
Korrektur herausgegeben am 8.3.2012
Ausgewählte Ausführung:Optical fibres - Reliability - Power law theory
Die Norm herausgegeben am 22.1.2014
Ausgewählte Ausführung:Electricity metering - Data exchange for meter reading, tariff and load control - Glossary of terms - Part 1: Terms related to data exchange with metering equipment using DLMS/COSEM
Die Norm herausgegeben am 12.1.2004
Ausgewählte Ausführung:Corrigendum 1 - Electricity metering - Data exchange for meter reading, tariff and load control - Glossary of terms - Part 1: Terms related to data exchange with metering equipment using DLMS/COSEM
Korrektur herausgegeben am 13.6.2005
Ausgewählte Ausführung:Electricity metering - Glossary of terms
Die Norm herausgegeben am 23.4.1999
Ausgewählte Ausführung:
Electricity metering equipment - General requirements, tests and test conditions - Part 11: Metering equipment
(Equipement de comptage de l´electricite - Exigences generales, essais et conditions d´essai - Partie 11: Equipement de comptage)
Die Norm herausgegeben am 29.6.2020
Ausgewählte Ausführung:
Electricity metering equipment (a.c.) - General requirements, tests and test conditions - Part 21: Tariff and load control equipment
(Equipement de comptage d´electricite (c.a.) - Prescriptions generales, essais et conditions d´essai - Partie 21: Equipement de tarification et de controle de charge)
Die Norm herausgegeben am 18.5.2004
Ausgewählte Ausführung:Letzte Aktualisierung: 2026-04-08 (Zahl der Positionen: 2 271 105)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.